统计过程控制管理程序程序号:版次/修订:1/0共 18 页 第 18 页1、目的通过SPC，识别过程变差的原因，针对原因采取措施，消除原因，减少过程变差2、范围适用于公司SPPC3、术语 引用SSPC手册中中附录G的术术语及符号4、职责 技术质质量部负责SSPC，其他他部门配合5、工作程序5．1本公司统统计过程控制制采用的方法法：a） 计数型数据：采采用P控制图图，计算过程程能力（即PPPM值）b） 计量型数据；采采用X—R控制图，计计算Ppk和和Cpk5．1．1X——R控制图的的绘制和使用用A、收集数据数据是以样本容容量恒定的小小子组的形式式报出的，这这种子组通常常包括2-55件连续的产产品，并周期期性的抽取子子组（例如：：每15分钟钟抽样一次，每每班抽取两次次等）应制制定一个收集集数据的计划划并将它作为为收集、记录录及将数据画画到控制图上上的依据A．1选择子组组大小、频率率和数据a． 子组大小：一般般由4-5件件连续生产的的产品的组合合，仅代表单单一刀具、冲冲模板等生产产出的产品b． 子组频率：应当当在适当的时时间收集足够够的子组，一一般对正在生生产的产品进进行监测的子子组频率可以以是每班两次次、每小时一一次或其他可可行的频率。
c． 子组数的大小：：一般情况下下，包含1000或更多单单值读数的225或更多个个子组数可以以很好的用来来检验稳定性性A．2建立控制制图及记录原原始数据X—R图通常是是将X图画在在R图之上方方，下面在接接一个数据栏栏X和R的的值为纵坐标标，按时间先先后的子组为为横坐标数数据值以及极极差和均值点点应纵向对齐齐数据栏应应包括每个读读数的空间同同时还应包括括记录读数的的和、均值（XX）、极差（RR）以及日期期或其他识别别子组的代码码的空间填填入每个子组组的单个读数数及识别代码码A．3计算每个个子组的均值值（X）和极极差（R）画在控制图上的的特性量是每每个子组的样样本均值（XX）和样本极极差（R），合合在一起后它它们分别反映映整个过程的的均值及其极极差对于每个子组，计计算： X1+X2+…+Xn X== nn R=XX最大值—X最小值式中：X1+XX2+…+Xn为子组内的的每个测量值值。
n 为子子组的样本容容量A．4选择控制制图的刻度两个控制图的纵纵坐标分别用用于X和R的的测量值对对于X图，坐坐标上的刻度度值的最大值值与最小值之之差应至少为为子组均值的的最大值与最最小值差的22倍对于RR图，刻度值值应从最低值值为0开始到到最大值之间间的差值为初初始阶段所遇遇到的最大极极差的2倍A．5将均值和和极差画在控控制图上 将均值值和极差分别别画在其各自自的图上将各各点用直线连连接起来从而而得到可见的的图形和趋势势简要的浏浏览一下所有有画上去的点点，看是否合合理，如果有有的点高的很很多或者低的的很多，需确确认计算和画画图是否正确确，应确保所所画的X和RR点在纵向是是对应的B、计算控制限限B．1计算平均均极差（R）及及过程均值（XX） R1+ R2+…RkR= kk X1+X2+…XkX = k式中：k为子组组的数量，RR1和X1即为第一个个子组的极差差和均值，RR2和X2为第一个子子组的极差和和均值，等等等。
B．2计算控制制限计算控制限：UUCLR=D4R LCLR=D3R UCLX= X ＋＋A2R LCLX= X —A2R式中：D4、 D3 、A2为常数，参参见下表：n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31B．3在控制图图上作出平均均值和极差控控制限的控制制线将平均极差和过过程均值画成成水平实线，各各控制限画成成水平虚线，把把线标上记号号C．过程控制解解释C．1分析极差差图上的数据据点a．超出界限的的点：出现一一个或多个点点超出任何一一个控制限是是该点处于失失控状态的主主要证据任任何超出控制制限的点立即即进行分析，找找出存在特殊殊原因的信号号给任何超超出控制限的的点做标记，以以便根据特殊殊原因实际开开始的时间进进行调查，采采取纠正措施施超出极差上控制制限的点通常常说明存在下下列情况中的的一种或几种种：1） 控制限计算错误误或描点时描描错；2） 零件间的变化性性或分布的宽宽度已经增大大（即变坏），这这种增大可以以发生在某个个时间点上，也也可能是整个个趋势的一部部分；3） 测量系统变坏（例例如，不同的的检验员或量量具）4） 测量系统没有适适当的分辨力力。
有一点位于控制制限之下（对对于样本容量量大小等于77的情况），说说明存在下列列的一种或几几种情况：1） 控制限或描点错错误；2） 分布的宽度变小小（即变好）；；3） 测量系统已改变变（包括数据据编辑或变换换）b．链：有下列列现象之一表表明过程已改改变或出现这这种趋势1） 连续7点位于平平均值的一侧侧；2） 连续7点上升（后后点等于或大大于前点）或或下降标记这些点，分分析原因，采采取措施高于平均极差的的链或上升链链说明存在下下列情况之一一或全部：1） 输出值的宽度增增加，其原因因可能是无规规律的（例如如设备工作不不正常或固定定松动）或是是由于过程中中的某个要素素变化（例如如：使用新的的不是很一致致的原材料），这这些都是常见见的问题，需需要纠正；2） 测量系统改变（例例如，新的检检验员和量具具）低于平均极差的的链，或下降降链表明存在在下列情况之之一或全部：：1） 输出值分布宽度度减小，这常常常是一个好好状态，应研研究以便推广广应用和改进进过程；2） 测量系统改变，这这样会掩盖过过程真实性能能的变化c．明显的非随随机图形：明明显的趋势（尽尽管它们不属属于链的情况况），周期性性，数据点的的分布在整个个控制限内，或或子组内数据据间有规律的的关系等。
分析并找出原因因，采取措施施一般情况下大约约2/3的描描点应落在控控制限的中间间三分之一的的区域内，大大约1/3的的点落在其外外的三分之二二的区域如如果显著多于于2/3以上上的描点落在在离极差均值值很近之处，则则应对下列情情况的一种或或更多进行调调查：1） 控制限计算错误误或描点时描描错；2） 过程或取样方法法被分层；每每个子组系统统化包含了从从两个或多个个具有完全不不同的过程均均值的过程流流的测量值（例例如从几组轴轴中每组抽一一根测取数据据）；3） 数据已经被编辑辑；如果显著少于22/3以下的的描点落在离离极差均值很很近的区域，则则应对下列情情况的一种或或两种进行调调查：1） 控制限计算错误误或描点时描描错；2） 过程或抽样方法法造成连续的的子组中包含含从两个或多多个具有明显显不同的变化化性的过程流流的测量值（例例如：输入材材料批次混淆淆）如果存在几个过过程流，应分分别识别和追追踪C．2识别并标标注特殊原因因 对极差差数据内每个个特殊原因进进行标注，作作过程操作分分析，从而确确定该原因并并改进对过程程的理解，纠纠正条件并且且防止再发生生C．3重新计算算控制限（极极差图）排除所有已被识识别并解决或或固定下来的的特殊原因影影响的子组，然然后重新计算算新的平均极极差和控制限限，并画下来来。
由于特殊殊原因而从极极差图中去掉掉的子组，也也应从均值图图中去掉修修改后的平均均极差和均值值可用于重新新计算均值的的试验控制限限C．4分析均值值图上的数据据点a．超出控制限限的点：出现现一点或多点点超出任一控控制限就证明明在这点出现现特殊原因应应立即对操作作进行分析在在控制图上标标注这样的数数据点一点超出任一控控制限通常表表明存在下列列情况之一或或更多：1） 控制限或描点错错误；2） 过程已改变，或或是在当时的的那一点（可可能是一件独独立的事件）或或是一种趋势势的一部分；；3） 测量系统发生改改变（例如，不不同的检验员员和量具）b．链：有下列列现象之一表表明过程已改改变或出现这这种趋势1）连续7点位位于平均值的的一侧；2）连续7点上上升（后点等等于或大于前前点）或下降降；标记这些点，分分析原因，采采取措施与过程均值有关关的链通常表表明出现下列列情况之一或或两者：1） 过程均值已改变变——也许还在在变化；2） 测量系统已改变变（漂移、偏偏倚、灵敏度度等）c．明显的非随随机图形：如如明显的趋势势（尽管它们们不属于链的的情况），周周期性，数据据点的分布在在整个控制限限内，或子组组内数据间有有规律的关系系等。
分析并找出原因因，采取措施施一般情况下大约约2/3的描描点应落在控控制限的中间间三分之一的的中间区域内内，大约1//3的点落在在其外的三分分之二的区域域1/200的点应落在在控制限较近近之处（位于于外1/3的的区域）另另外，存在大大约1/1550的点落在在控制限之外外，但可认为为是受控稳定定系统合理的的一部分———就是说，在在约99.773%的点位位于控制限之之内如果大大大超过2//3以上的描描点落在过程程均值很近之之处，则应对对下列情况的的一种或更多多进行调查：：1）控制限计算算错误或描点点时描错；2）过程或取样样方法被分层层；每个子组组包含了从两两个或多个具具有不同均值值的过程流的的测量值；3）数据已经被被编辑；如果显著少于22/3以下的的数据点落在在过程均值很很近的区域，则则应对下列情情况的一种或或两种进行调调查：1）控制限计算算错误或描点点时描错；2）过程或抽样样方法造成连连续的子组中中包含从两个个或多个具有有明显不同过过程流的测量量值如果存在几个过过程流，应分分别识别和追追踪C．5识别并标标注特殊原因因 对均值值数据中每一一个显示处于于失控状态的的条件进行一一次过程操作作分析，从而而确定特殊原原因产生的理理由，，纠正正该状态，并并且防止再发发生。
C．6重新计算算控制限（均均值图）排除所有已被识识别并解决或或固定下来的的特殊原因影影响的任何失失控的点，然然后重新计算算并描画过程程均值和控制制限确保当当与新的控制制限相比时，所所有的数据点点看起来都处处于受控状态D．过程能力解解释D．1计算过程程的标准偏差差 只要过过程的极差和和均值都处于于统计受控状状态，则可用用估计的过程程标准偏差（σR/d2）来评价过程的能力σR/d2 ==R/d2n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D．2计算过程程能力 USLL－X XX－LSL对于Ppk= min［ ， ］3σs 3σs σσs= n （Xi－X）2 ∑ i=1 n－1 USL－XX X－LLSL对于Cpk= min［ ， ］3σR/d2 3σR/d2 式中：：USL，LLSL=规范范上限和下限限，σR/d2为估计的过过程标准偏差差，σs为过程总变变差。
D．3评价过程程能力根据是否符合顾顾客的要求来来评价过程能能力顾客要求的过程程能力参见《PPPAP控制制程序》不论是对未满足足的能力指数数值作出响应应，或是为超超过最低能力力指数要求对对持续改进成成本和质量性性能作出响应应，所要求的的措施是相同同的：1） 通过减少普通原原因引起的变变差或将过程程均值调整到到接近目标值值方法来改进进过程性能，这这通常意味着着要采取管理理措施来改进进系统；在那些要采取更更为紧急措施施来满足短期期需要的情况况，可用以下下两种临时的的办法：1） 对输出进行筛选选，根据需要要进行报废或或返工处置；；2） 改变规范使之与与过程性能一一致（这样既既不能改进过过程也不能满满足顾客要求求）；以上两种方法与与过程改进相相比显然是下下策D．4提高过程程能力为了提高过程能能力，必须重重视减少普通通原因必须须将注意力直直接集中在系系统中，即造造成过程变异异性的根本因因素上，例如如：机器性能能、输入材料料的一致性、过过程操作的基基本方法、培培训方法或工工作环境一一般来说，纠纠正这些造成成不可接受的的过程能力的的系统原因可可能会超出操操作者或它们们的现场管理理人员的能力力相反，需需要采取管理理层介入做一一些基本的变变化、分配资资源，并为改改进过程的整整个性能进行行协调。
用短短期的局部措措施来纠正系系统是不会成成功的D．5对修改的的过程绘制控控制图并分析析对过程已采取了了系统的措施施后，其效果果应在控制图图上表现出来来控制图变变成了验证措措施是否有效效的一种方式式在对过程实施改改变时，应仔仔细的监视控控制图在该该变化期间会会使操作发生生混乱，有可可能造成新的的控制问题，掩掩盖系统变化化的真实效果果在变化时期的所所有不稳定的的因素都能解解决后，应评评定新的过程程能力并将他他作为将来操操作新控制限限的基础，通通常情况下，变变化后用255个子组的数数据足以建立立新的控制限限5．1．2 PP控制图的绘绘制和使用A．收集数据A．1 选择子子组的容量，频频率及数量a．子组容量：：用于计数型型数据的控制制图一般要求求较大的子组组容量（例如如50到2000或更多）以以便检验出性性能的一般变变化对于显显示可分析的的图形的控制制图，子组容容量应足够大大，大到每个个组内包括几几个不合格品品b．分组频率：：应根据产品品的周期确定定分组的频率率以便帮助分分析和纠正发发现的问题时时间间隔短则则反馈快，但但也许与大的的子组容量的的要求矛盾c．子组的数量量：收集数据据的时间应足足够长，使得得能找到所有有可能的影响响过程的变差差源。
一般情情况下，也应应包括25或或更多的子组组，以便很多多地检验过程程的稳定性，并并且如果过程程稳定，对过过程性能也可可产生可靠的的估计A．2计算每个个子组内的不不合格品率（pp）计算每个子组内内的下列值：：被检项目的数量量（n）发现的不合格项项目的数量（nnp）通过这些数据计计算不合格品品率： p = nnp/n 这些数数据应记录在在数据表中作作为初步研究究的基础当当最近的过程程数据适用时时，它们可以以用来加速这这一阶段的研研究A．3选择控制制图的坐标刻刻度描绘数据点用的的图应将不合合格品率作为为纵坐标，子子组识别（小小时、天等）作作为横坐标纵纵坐标的刻度度应从0到初初步研究数据据读数中最大大的不合格率率值的1.55到2倍的值值A．4将不合格格品率描绘在在控制图上描绘每个子组的的p值，将这这些点联成线线通常有助于于发现异常图图形和趋势当点描完后，粗粗览一遍看看看它们是否合合理如果任任意一点比别别的高出很多多或低出很多多，检查计算算是否正确记录过程的变化化或者可能影影响过程的异异常情况，当当这些情况被被发现时，将将它们记录在在控制图的“备注”部分。
B．计算控制限限B．1计算过程程平均不合格格品率（ pp ）对于k个子组的的研究时期，计计算不合格品品率的均值如如下： n11p1＋n2p2＋…＋nkpkp = n1＋n2＋…＋nk式中：n1p11，n2p2……及n1，n2…为每个子组组的不合格项项目数及检查查的项目数注注意不要混淆淆不合格品百百分数（p××100）和和不合格品率率（p）B．2计算上、下下控制限（UUCL，LCCL）如果过程受统计计控制，子组组的样本容量量一定，则控控制限为过程程平均值加或或减期望的变变差允许值对对于K个子组组的研究时期期，按下式计计算上下控制制限：UCLP= pp＋3√p（1－pp）/ √n LCCLP= p－ 3√p（1－pp）/ √n式中：n为恒定定的样本容量量B．3画线并标标注过程均值（ pp ）：水平平实线控制限（UCLL，LCL）：：水平虚线当各子组容量与与其平均值相相差不超过正正负25%时时，（典型的的处于相对稳稳定的条件下下的实际生产产量），可用用平均样本容容量（ n ）来计算控控制限。
在这这种情况下，UUCLP，LCLP=p±3√p（1－pp）/√n 当子子组容量的变变化超过上述述值时，则要要求单独计算算这些特别小小或特别大样样本时期的控控制限确定可能超过其其平均值±25%的样样本容量范围围，找出样本本容量超出该该范围的所有有子组；按下式重新计算算这些点准确确的控制限：：UCLP，LCCLP= p±3√p（1－pp）/ √n式中：n为特殊殊子组的样本本容量，点与与点之间只有有n的值变化化在控制图上描绘绘受影响的子子组新的上、下下控制限，并并作为识别特特殊原因的依依据C．过程控制用用控制图解释释目的：找出过程程不在以同一一水平运行的的证据，即过过程失控，并并采取相应的的措施数据据点中存在超超出控制限的的点，或者存存在超出随机机情况下可能能出现的明显显趋势或图形形，这就表明明存在变差的的原因C．1分析数据据点，找出不不稳定的证据据超出控制限的点点a．超出任一控控制限就证明明在那点不稳稳定应标注注任何超出控控制的点超出上控制限的的点（不合格格品率更高）通通常表明存在在下列的一个个或多个情况况：1） 控制限或描点错错误2） 过程性能恶化，在在当时那点或或作为一种趋趋势的一部分分；3） 评价系统已改变变（例如：检检验员、量规规）；低于控制限下的的点（不合格格品率更低）通通常表明存在在下列一个或或多个情况：：1） 控制限或描点错错误；2） 过程性能已改进进（为了改进进，应当研究究这种情况且且长期保持）；；3） 测量系统已改进进。
在控制限之内的的图形或趋势势——出现异常常的图形或趋趋势，即使所所有的点都在在控制限之内内，都证明在在出现这个图图形或趋势的的时期内过程程失控或性能能水平变化这这种情况会提提前给出有关关状态的警告告，如不纠正正，这种状态态将造成点超超出控制限b．链：在一个个受控的，nnp中等较大大的过程中，落落在均值两侧侧的点的数量量将几乎相等等下列任一一情况都表明明过程变化或或开始有变化化的趋势：1） 连续7点位于均均值的一侧；；2） 连续7点上升（后后者与前者相相等或比前者者大）或连续续的下降在这些情况下，应应对促使采取取措施的点进进行标记出现高于均值的的长链或连续续上升的点，通通常表明存在在下列情况之之一或两者：：1） 过程的性能已恶恶化——而且可能能还在恶化；；2） 评价系统已改变变出现低于均值的的长链或连续续下降，通常常表明存在下下列情况之一一：1） 过程性能已改进进（应研究其其原因，并将将他固定下来来）；2） 评价系统已改变变c．明显的非随随机图形：点到过程均值的的距离：通常常在一个统计计控制状态，仅仅存在普通原原因变差并且且其np中等等较大的过程程中，大约22/3的点将将在位于控制制限中部1//3的区域内内；大约1//3的点将位位于控制限22/3以内的的区域，大约约1/20的的点将位于与与控制限较接接近的区域（外外部三分之一一区域）。
如果明显多于22/3的点位位于与均值接接近的地方，这这就意味着下下列一种或几几种情况：1） 控制限或描点的的计算错误或或描点错误；；2） 过程或取样方法法分层：每个个子组包含来来自两个或多多个具有不同同平均性能的的过程流的测测量（例如：：两条平行的的生产线混合合的输出）；；3） 数据被编辑过（明明显偏离均值值的值已换掉掉或剔除）如果大大少于22/3的点位位于过程均值值较近的区域域，则意味着着存在下列情情况之一或全全部：1） 发生了计算或描描点错误；2） 过程或取样方法法造成连续的的子组包含来来自两个或多多个具有不同同均值性能的的过程流的测测量（例如：：每班之间性性能的差异）如果存在几个过过程流，应分分别识别和跟跟踪它们C．2寻找并纠纠正特殊原因因 当从数数据中已发现现了失控的情情况时，则必必须研究操作作过程以便确确定其原因然然后纠正该原原因并尽可能能防止其再发发生C．3重新计算算控制限当进行初始过程程研究或对过过程能力重新新评价时，应应重新计算试试验控制限，以以便排除某些些控制时期的的影响，这些些时期中控制制状态受到特特殊原因的影影响，但已被被纠正剔除除与特殊原因因有关的点，应应重新计算控控制限。
D．过程能力解解释D．1计算过程程能力1） 对于p图，过程程能力是通过过过程平均不不合格品率pp 来表示当当所有点都受受控后才计算算该值如需需要，还可以以用符合规范范的比率（11－p）来表表示；2） 对于过程能力的的初步估计值值，应使用历历史数据，但但应剔除与特特殊原因有关关的数据点3） 当正式研究过程程能力时，应应使用新的数数据，最好是是25个或更更多时期子组组，且所有的的点都受统计计控制这些些连续的受控控的时期子组组的p值是该该过程当前能能力的更好的的估计值D．2评价过程程能力计算的过程能力力反映该过程程生产和可能能预期生产的的现阶段性能能水平，只要要过程保持受受控状态并且且在性能上不不经历任何基基本的变化，则则过程会并且且能够按现有有水平运行从从一个时期到到另一个时期期，测得的不不合格品率百百分数将在控控制限内变化化，但除去过过程中的任何何变化，或允允许存在超过过控制的时期期之外，合格格品的百分数数的平均值将将趋于稳定；；这个过程能力，而而不是波动的的单值，必须须对照管理上上对于特殊特特性的期望来来评价那么么，如果这个个平均水平不不可接受，则则应直接对过过程本身进行行进一步分析析并采取措施施（管理人员员的责任）。
D．3改进过程程能力过程一旦表现处处于统计控制制状态，该过过程所保持的的不合格平均均水平即反映映了该系统的的变差原因———过程能力力在操作上上诊断特殊原原因（控制）变变差问题的分分析方法不适适用于诊断影影响系统的普普通原因变差差必须对系系统本身直接接采取管理措措施，否则过过程能力不可可能得到改进进可以使用用诸如排列图图分析法及因因果分析图等等解决问题技技术D．4绘制并分分析修改后的的过程控制图图1） 当对过程采取了了系统的措施施后，其效果果应在控制图图上明显的反反映出来；控控制图成为验验证措施有效效性的一种途途径2） 对过程进行改变变时，应小心心的监视过程程图这个变变化时期对系系统操作会是是破坏性的，可可能造成新的的控制问题，掩掩盖系统变化化后的真实效效果；3） 在过程改变期间间出现的特殊殊原因变差被被识别并纠正正后，过程将将按一个新的的过程均值处处于统计控制制状态这个个新的均值反反映了受控状状态下的性能能，可作为现现行过程控制制的基础但但是还应继续续对系统进行行调查和改进进6、相关文件SPC手册7、质量记录记录名称保存期保存地点7.1PX/S4-16-033 X—R控制图及及过程能力CCpk计算表表（计量型） 二年 技技术质量部7.2 PX//QS4-16-044 P控制图图及过程能力力计算表（计计数型） 二年 技术质量部部SPC流程图过程控制分析计算并绘图收集数据改进过程评价过程能力计算过程能力编制：审核：批准：。